Mỹ kết án tù nhà khoa học Trung Quốc vì đánh cắp công nghệ
Theo South China Morning Post, ông Hongjin Tan, 36 tuổi, nhà khoa học Trung Quốc cư trú bất hợp pháp tại Mỹ, đã bị tuyên án 2 năm tù giam vì tội đánh cắp công nghệ pin thế hệ mới từ một công ty năng lượng của Mỹ.